JJG 235-1990 椭圆齿轮流量计检定规程
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 21:05:47 浏览:9049
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 椭圆齿轮流量计检定规程 |
| 英文名称： | Verification Regulation of Oval Flow Meter |
| 中标分类： |
综合 >>
计量 >>
力学计量 |
| 替代情况： | 被JJG 667-97代替 |
| 发布日期： | 1999-11-12 |
| 实施日期： | 1993-05-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
| 页数： | 17页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 综合 计量 力学计量
【英文标准名称】:Preparationofdrawingsforopticalelementsandsystems--Part3:Materialimperfections--Bubblesandinclusions
【原文标准名称】:光学元件和系统图的绘制.第3部分:材料缺陷.气泡和杂质
【标准号】:JISB0090-3-2001
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2001-03-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonTestingandMeasurementTechnology
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:工程图;光学仪器;公差(测量);光学
【英文主题词】:engineeringdrawings;optics;opticalinstruments;tolerances(measurement)
【摘要】:JISB0090の規格群は,製造及び検査に用いられる製図における光学素子及びシステムに対する設計上並びに機能上の要求事項の表記について規定する。この規格は,光学素子内の泡及び他の異物の許容レべルの表記方法を規定する。備考この規格の対応国際規格を,次に示す。なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IECGuide21に基づき,IDT(一致している),MOD(修正している),NEQ(同等でない)とする。ISO10110-3:1996Opticsandopticalinstruments-Preparationofdrawingsforopticalelementsandsystems-Part3:Materialimperfections-Bubblesaneinclusions(IDT)
【中国标准分类号】:N30
【国际标准分类号】:01_100_20;37_020
【页数】:7P;A4
【正文语种】:日语
【英文标准名称】:Low-voltagefuses-Supplementaryrequirementsforfuse-linksfortheprotectionofsemiconductordevices
【原文标准名称】:低压熔断器.半导体器件防护用熔断体的补充要求
【标准号】:BSEN60269-4-1996
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1988-10-31
【实施或试行日期】:1988-10-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:断路范围;半导体工程;低压熔断器;特性;保护(装置);试验;规范(验收);电气设备;熔断体;冲击设施;保护设备;低电压;定义;电气工程;显示装置;半导体器件;设计;断路容量;熔断器
【英文主题词】:Breakingcapacity;Circuits;Definition;Definitions;Design;Dimensions;Disconnectingrange;Electricalengineering;Electricalequipment;Electricalprotectionequipment;Electronicequipmentandcomponents;Fuse-links;Fuses;Impactappliances;Indicationdevice;Inspection;Lowvoltage;Low-voltageequipment;Low-voltagefuses;LVHRCfuses;Marking;Properties;Protection;Protectiondevices;Ratedvoltage;Ratings;Safetyengineering;Safetyrequirements;Semiconductordevices;Semiconductorengineering;Semiconductors;Specification(approval);Testing
【摘要】:Thesesupplementaryrequirementsapplytofuse-linksforapplicationinequipmentcontainingsemiconductordevicesforcircuitsofratedvoltagesupto1000Va.c.orcircuitsofnominalvoltagesupto1500Vd.c.andalso,insofarastheyareapplicable,forcircuitsofhighernominalvoltages.NOTE1Suchfuse-linksarecommonlyreferredtoas“semiconductorfuse-links”.NOTE2Inmostcases,apartoftheassociatedequipmentservesthepurposeofafuse-base.Owingtothegreatvarietyofequipment,nogeneralrulescanbegiven;thesuitabilityoftheassociatedequipmenttoserveasafuse-baseshouldbesubjecttoagreementbetweenthemanufacturerandtheuser.However,ifseparatefuse-basesorfuse-holdersareused,theyshouldcomplywiththeappropriaterequirementsofIEC60269-1.
【中国标准分类号】:K31
【国际标准分类号】:29_120_50
【页数】:34P.;A4
【正文语种】:英语
